箱式淋雨試驗(yàn)箱 LED燈具防水試驗(yàn)

 箱式淋雨試驗(yàn)箱 LED燈具防水試驗(yàn)

主要技術(shù)參數(shù):

1． 噴水孔徑：φ0.4mm（或φ0.8mm）

2． 噴水孔間距: 50mm

3． 噴水環(huán)半徑: R400mm

4． 噴水管管徑: φ16mm

5． 擺 管擺角 幅 度: 0～±180°可調(diào)

6． 擺 速 調(diào) 節(jié): 無(wú)級(jí)調(diào)節(jié)

7． 每孔平均水流速度： 0.07L／min（或0.6L／min）

RDP-500淋雨試驗(yàn)箱直（旋）管主要技術(shù)參數(shù)：

1． 轉(zhuǎn)臂長(zhǎng)度：500mm

2． 噴管通徑：φ15mm

3． 噴孔直徑：φ1.2mm

4． 噴孔個(gè)數(shù)：40

5． 噴孔間距：12.5mm

6． 噴管轉(zhuǎn)速：23轉(zhuǎn)/分

7． 旋管角度：360°旋轉(zhuǎn)

8． 旋管?chē)娝畨海?90kpa可調(diào)

9． 旋管水流量：39.2L/min可調(diào)

箱式淋雨試驗(yàn)箱 LED燈具防水試驗(yàn)

箱式淋雨試驗(yàn)箱

主要適用于電子電工，航空航天等科研單位外部照明、信號(hào)裝置及汽車(chē)燈具外殼防護(hù)試驗(yàn)檢測(cè)。

防水等級(jí)：

對(duì)于可便攜式、戶(hù)外用以及汽車(chē)電子均有防水測(cè)試要求，在上不論是IEC、MIL或ETSI以及SAE均有制訂相對(duì)應(yīng)的測(cè)試要求。

IEC/EN60529防水分為9個(gè)等級(jí)(等級(jí)0 ~ 等級(jí)8)，防水等級(jí)(e.g. IPX4-防水等級(jí)4)：Level 0: *防水無(wú)保護(hù)
Level 1: 垂直方向滴水應(yīng)無(wú)有害影響
Level 2: 外殼的各垂直面在15°范圍內(nèi)傾斜時(shí)，垂直滴水應(yīng)無(wú)有害影響
Level 3: 各垂直面60°范圍內(nèi)淋水，無(wú)有害影響
Level 4: 向外殼各方向?yàn)R水無(wú)有害影響
Level 5: 向外殼各個(gè)方向噴水無(wú)有害影響
Level 6: 向外殼各個(gè)方向強(qiáng)烈噴水無(wú)有害影響
Level 7: 浸入規(guī)定壓力的水中經(jīng)規(guī)定時(shí)間后外殼進(jìn)水量不致達(dá)到有害程度
Level 8: 按生產(chǎn)廠和用戶(hù)雙方同意的條件（應(yīng)比Level 7嚴(yán)酷）持續(xù)潛水后外殼進(jìn)水量不致達(dá)有害程度

Level 9: 高壓測(cè)試

參 照 標(biāo) 準(zhǔn)

本淋雨試驗(yàn)箱綜合了國(guó)內(nèi)汽車(chē)、摩托車(chē)行業(yè)，歐美、日本及中國(guó)臺(tái)灣地區(qū)的汽車(chē)、摩托車(chē)行業(yè)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行淋雨（防水）試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)要求。

依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 10485-2007、GB 4208-2008外殼防護(hù)等級(jí)IPX3、4 及GB 4942

中對(duì)設(shè)備的要求制作。可進(jìn)行45?夾角、360?旋轉(zhuǎn)的直角淋雨試驗(yàn)，又可進(jìn)行0?～±180?(理論值)擺幅的擺管淋雨試驗(yàn)。本設(shè)備人工模擬淋雨試驗(yàn)，不包括有強(qiáng)風(fēng)速的降雨，不考慮試驗(yàn)樣品的溫度與雨水溫度的溫度差作用所引起的大量進(jìn)水

  產(chǎn) 品 說(shuō) 明

自然界雨水對(duì)產(chǎn)品和材料的破壞，每年造成難以估計(jì)的經(jīng)濟(jì)損失。所造成的損害主要包括腐蝕、褪色、變形、強(qiáng)度下降、膨脹、發(fā)霉等，特別是電器產(chǎn)品因雨水造成短路而極易釀成火災(zāi)。因此針對(duì)特定的產(chǎn)品或材料進(jìn)行外殼防護(hù)水試驗(yàn)是*的一道關(guān)鍵程序。

本套防水試驗(yàn)設(shè)備可以用來(lái)考核和確定電工、電子產(chǎn)品外殼和密封件在水試驗(yàn)后或在試驗(yàn)期間能否保證設(shè)備和元件良好的工作性能。設(shè)備能*模擬外界淋雨環(huán)境，充分再現(xiàn)外界淋雨環(huán)境對(duì)產(chǎn)品所造成的影響。

本設(shè)備可以為科研、產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和質(zhì)量控制提供相應(yīng)的環(huán)境模擬和加速試驗(yàn)。

產(chǎn)品正面圖