您的位置：
高低溫循環(huán)試驗箱電腦失效驗證試驗升降溫快
簡要描述：高低溫循環(huán)試驗箱電腦失效驗證試驗升降溫快用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、航天等制品檢測質量
產品型號： SME-100PF
所屬分類：高低溫交變濕熱試驗箱
更新時間：2024-06-28
廠商性質：生產廠家
高低溫循環(huán)試驗箱電腦失效驗證試驗升降溫快
是航空、汽車、家電、科研等領域*的檢測設備，用于測試和確定電工、電子及其他產品及材料進行高溫、低溫溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
1）溫濕度控制儀表采用“韓國原裝TEMI990"大屏幕-液晶顯示-可編程微電腦PID控制SSR輸出運行
2） 具有PID自整定功能、模糊控制功能、多點報警功能、參數(shù)屏蔽功能、用戶調整功能、斜坡/保溫功能
3） 傳感器為*Pt100鉑電阻傳感器，精度高，準確
高溫低溫試驗導則設備結構該設備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。箱體的外殼為采用冷軋鋼板靜電噴塑，內膽采用優(yōu)質不銹鋼板，箱門中間設大面積觀察窗，并配有觀察燈，使用戶可以清晰地看到試樣的試驗情況。外型整體美觀大方。該試驗設備主要用于對產品按照國家標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產品的物理以及其他相關特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產品的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便供產品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
高低溫循環(huán)試驗箱電腦失效驗證試驗升降溫快
試樣限制 | |
| 本試驗設備禁止： 易燃、易爆、易揮發(fā)性物質試樣的試驗或儲存 腐蝕性物質試樣的試驗或儲存 生物試樣的試驗或儲存 強電磁發(fā)射源試樣的試驗或儲存 |
3.容積、尺寸和重量 | |
3.1.標稱內容積 3.2.內箱尺寸 3.3.外型尺寸 3.4.重量 | 80L W 400×H 500×D 400mm W 700×H 1640×D 1150mm |
4.性能 | |
4.1.測試環(huán)境條件 4.2.測試方法 | 環(huán)境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、試驗箱內無試樣條件下 GB/T5170.2-2008電工電子產品溫度試驗設備檢驗 |
4.3.溫度范圍 | -40℃→+150℃ |
4.4.溫度波動度 | ±0.5℃ |
4.5.溫度偏差 | ±2.0℃ |
4.6.濕度范圍 | 20%～98%R.H |
4.7.濕度波動度 | ±2.5%R.H. |
4.8.濕度均勻度 | ±3.0%RH（濕度＞ 75%RH） ±5.0%RH（濕度 ≤75%RH） |
4.9.升溫時間 | -40℃→+150℃ 65min |
4.10.降溫時間 | +20℃→-40℃ 60min |
4.11.負載情況 | 空載 |
4.12.溫濕度控制范圍圖 | |
4.13.滿足試驗標準
| GB/T 2423.1-2008試驗A：低溫試驗方法 GB/T 2423.2-2008 試驗B：高溫試驗方法 GJB 150.3-1986 高溫試驗 GJB 150.4-1986 低溫試驗 IEC68-2-1 試驗A：寒冷 IEC68-2-2 試驗B：干熱 |
在線交流
咨詢電話